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1.
Análisis y diseño de sistemas de información / Jeffrey L. Whitteh, Lonnie D. Bentley, Víctor M. Barlow

por Whitten, Jeffrey L, , autor | Bentley, Lonnie D [ , coautor ] | Barlow, Victor M [ , coautor].

Edición: 3a. edición Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill , 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel Cd. AztecaSignatura topográfica: QA76.9S88 W4518 2003 (5).

2.
Análisis y diseño de sistemas de información Jeffrey L. Whitten, Lonnie D. Bentley, Víctor M. Barlow

por WHITTEN, Jeffrey L | BENTLEY, Lonnie D., coaut | BARLOW, Víctor M.,coaut.

Edición: 3a EdTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México McGraw-Hill Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel TlalnepantlaSignatura topográfica: QA76.9 S88 W4518 2003 (3).

3.
Análisis de sistemas : diseño y métodos / Jeffrey L. Whitten

por Whitten, Jeffrey L [autor] | M. Elizabeth Treviño [traducción] | Mayra Rico Valdovinos [revisión técnica] | Gary Randolph [colaboración].

Edición: 3a ediciónTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill , 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel SurSignatura topográfica: QA76.9S88 W4518 2008 (1).

4.
Analisis de sistemas : diseño y metodos / Jeffrey L. Whitten,

por Whitten, Jeffrey L [autor] | ARRIOJA JUÁREZ, Raúl [traductor.] | BLANCO Y CORREA MAGALLANES, Jorge Luis [traductor.] | Bentley, Lonnie D [coautor.] | Treviño R., M. Elizabeth [traductor].

Edición: 7 a ediciónTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill Interamericana , 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel CuautitlanSignatura topográfica: QA76.9S88 W4518 2008 (1).

5.
Análisis de sistemas : diseño y métodos / Jeffrey L. Whitten, Lonnie D. Bentley ; con la contribución de Gary Randolph ; traductores, M. Elizabeth Treviño R., Raúl Arrioja Juárez y Jorge L. Blanco y Correa M.

por WHITTEN, Jeffrey L | Bentley, Lonnie D., coautor Randolph, Gary, colaborador Treviño R., M. Elizabeth, traductor Arrioja Juárez, Raúl, traductor Blanco y Correa Magallanes, Jorge Luis, traductor Ì.

Edición: 7 edTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill Interamericana 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel Toreo - NaucalpanSignatura topográfica: QA76.9 W4518 2008 (1).

6.
Analalisis de sistemas Diseño y metodos Jeffrey L.Whitten ,Lonnie D.Bentley

por WHITTEN Jeffrey L | BENTLEY ,Lonnie D [coaut.].

Edición: 7a ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México Mc Graw Hill 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel TlalnepantlaSignatura topográfica: QA76.9588 W4518 2008 (1).

7.
Análisis de sistemas : diseño y métodos / Jeffrey L. Whitten, Lonnie D. Bentley; coolaboración de Gary Randolph; traducción de Elizabeth Treviñi R., Raúl Arrioja Juárez, Jorge L. Blanco y Correa M.

por Whitten, Jeffrey L [autor] | Bentley, Lonnie D [autor] | Randolph, Gary [colaborador] | Treviño R., M. Elizabeth [traductor] | Arrioja Juárez, Raúl [traductor] | Blanco y Correa M., Jorge L [traductor].

Edición: 3a. ediciónTipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: Especializado; Editor: México : McGraw Hill , 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel ErmitaSignatura topográfica: QA76.9S57 W4518 2008 (1).

8.
Análisis de sistemas Diseño y métodos / Jeffrey L. Whitten / Lonnie D. Bentley

por Whitten, Jeffrey L [autor] | Bentley, Lonnie D [coautor.] | Rico Valdovinos, Mayra [revisión técnica] | Orozco Malo, Miguel Alejandro [revisión técnica] | Treviño Rosales, Magda Elizabeth [traducción].

Edición: 7a. ediciónTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: México : McGraw-Hill 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Plantel IztapalapaSignatura topográfica: QA76.9S88 W4518 2008 (1).

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